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Lunedì, 21 Settembre 2015 11:21

La Microscopia elettronica applicata allo studio dei Beni Culturali, nuovo Workshop a Urbino

SISM, Società Italiana di Scienze Microscopiche organizza, con il supporto del Dipartimento di Scienze della Terra, della Vita e dell'Ambiente dell'Università degli Studi di Urbino Carlo Bo, una nuova edizione del Workshop sulla Microscopia elettronica applicata allo studio dei Beni Culturali.

Il workshop si svolgerà il 28 e 29 settembre 2015 presso il Campus Scientifico ''E.Mattei'' dell'Università degli Studi di Urbino.

L'evento è dedicato a professionisti, docenti, ricercatori, tecnici e studenti che operano nel campo dello studio, della conservazione e del restauro dei beni culturali. Sarà dedicata particolare importanza alle applicazioni della microscopia elettronica, nei suoi diversi approcci metodologici.
Autorevoli relatori illustreranno, nell'Aula Magna del Campus di Urbino, i loro dati più recenti sulla caratterizzazione morfologica ultrastrutturale e chimica dei materiali costitutivi le opere d’arte, in particolare pietre, ceramiche, vetri, metalli, monili, materiali policromi, legno, carta, pergamena, tessuti e materiali polimerici. Oltre le relazioni in aula, ci saranno delle esercitazioni pratiche sulla preparazione di campioni specifici, e uno spazio dedicato alle Aziende. E’ prevista infine una sessione Poster, che saranno esposti per tutta la durata del Workshop.

L’iscrizione al workshop può essere effettuata compilando l'apposita scheda on-line entro il 26 settembre 2015.
Le quote di iscrizione comprendono partecipazione alle relazioni e alle esercitazioni pratiche in laboratorio, materiale didattico, pranzo, cena in un ristorante tipico di Urbino, 2 coffee break, pernottamento al Collegio Internazionale, con prima colazione. Comprende inoltre la pubblicazione degli abstract delle relazioni e dei poster su Microscopie ed eventualmente, come lavori in extenso, su Archeomedia.

 

Programma

 

Lunedì, 28 settembre
Aula Magna
14.00 Registrazione
14.30 Benvenuto ai partecipanti e presentazione del workshop
15.00 Le nuove tecnologie ed il SEM-EDS nella diagnostica non tradizionale (D. Ferro, Roma)
15.30 L'occhio del SEM nella pittura moderna e contemporanea, considerazioni analitiche (G. Lanterna, Firenze)
16.00 Coffee break
16.30 Applicazione della microscopia elettronica in petro-archeometria e archeometallurgia (P. Santi, Urbino)
17.00 Applicazioni ESEM/EDX per lo studio delle superfici di interesse architettonico e storico artistico (G.
Quarta, Lecce)
17.30 Applicazione della microscopia elettronica allo studio di bronzi dorati a fuoco (C. Martini, Bologna)
18.00 Studio di materiali metallici di interesse archeologico e storico-artistico mediante microscopia elettronica a scansione (G.L. Garagnani, Ferrara)
18.30 Malte idrauliche a calce per il restauro. Studio in microscopia elettronica a scansione (M. Macchiarola,
Faenza)
19.00 La virtualizzazione del microscopio elettronico applicata ai beni culturali (A. Conventi, Venezia)
20.30 Cena

 

Martedì, 29 settembre
Aula Magna
09.00 Tra le antiche "pietre" preziose: il contributo delle indagini SEM-EDX alla conoscenza dei materiali e del
loro uso (P. Pallecchi, Firenze)
09.30 La presenza di metalli pesanti sulle superfici del Giardino Pensile del Palazzo Ducale di Urbino indagata
con tecniche microscopiche (M.L. Amadori, Urbino)
10.00 Il SEM-EDX nello studio dei materiali cartacei e membranacei antichi e moderni: dall'archeologia alla
conservazione (F. Pinzari, Roma)
10.30 Coffee break
11.00 La microscopia elettronica in pressione variabile per la diagnostica e la conservazione dei Beni Culturali (P. Croveri, Torino)
11.30 La microscopia elettronica nello studio dei materiali ceramici antichi (S. Gualtieri, Faenza)
12.00 Spazio dedicato alle Aziende
13.00 Pranzo al campus
14.00 Spazio dedicato alle Aziende
15.00 Esercitazioni pratiche: preparazione campioni per TEM e SEM, da filati e legno (S. Burattini, M. Battistelli,
S.Salucci, D.Curzi)
17.30 Chiusura del workshop

 

Scarica la Brochure

 

Fonte: SIMS

 

Ultima modifica il Lunedì, 21 Settembre 2015 11:29

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