NOTA! Questo sito utilizza i cookie e tecnologie simili.

Se non si modificano le impostazioni del browser, l'utente accetta. Per saperne di piu'

Approvo

 


 

Giovedì, 07 Aprile 2016 10:40

Crono: uno scanner XRF riconfigurabile per analisi su beni culturali di grande superficie

Crono è una nuova tecnologia per l'analisi XRF di superifici pittoriche proposta da XGLab. Crono è progettato per la scansione elementale in situ, molto rapida e non invasiva del campione. I componenti XRF sono integrati in una testa compatta (30 cm x 16 cm x 15 cm, 3 kg). Il detector a raggi X è un Silicon Drift Detector (SDD) di grossa area, letto da un preamplificatore di carica in tecnologia CMOS ( “CUBE” di XGLab), da una nuova elettronica di processamento dei segnali (“Dante” anch’esso sviluppato da XGLab) caratterizzata da un basso rumore anche per alti count rate e trasmissione dei dati in tempo reale.

La sorgente di eccitazione è un generatore compatto di raggi X con anodo in Rh di alta efficienza. Tre collimatori (del diametro di 0,5 mm, 1 mm e 2 mm) sono selezionabili via software per avere diversi punti di analisi sul campione. Anche un set di filtri (quattro filtri sempre selezionabili via software) è integrato nella testa dello strumento per migliorare il limite inferiore delle concentrazioni rivelabili in particolari applicazioni.
La particolare cura adottata nel design dello scanner consente di rivelare elementi che variano da Na a U con buona efficienza anche nella regione tra 1 e 2keV (ad esempio per elementi quali Na, Mg, Al, Si, P per le linee di emissione K) e nella regione >25keV (per elementi quali Sn, Sb, Ba sempre usando le linee K). La sensibilità per elementi leggeri (come Na e Mg) può essere aumentata flussando Elio nella zona di misura.

La testa è montata su un frame motorizzato che permette un’area di scansione fino a 60 cm x 45 cm e un movimento in profondità massimo per la messa a fuoco di 7,5 cm. Grazie al design congiunto della meccanica, dell’elettronica e alla scelta dei componenti specifici per la fluorescenza X, la velocità di scansione può arrivare fino a 45mm/sec, con un tempo di scansione che varia da poche decine di minuti a poche ore, a seconda della risoluzione spaziale, dell’area interessata e del contrasto nell’immagine.

Il Sistema può essere montato su un carrello, il che consente l’inclinazione della struttura tra -20° e +90° rispetto al piano orizzontale. La struttura motorizzata e il carrello sono facilmente smontabili per il trasporto. Quando non è richiesta la mappatura del campione, lo scanner si può trasformare in uno strumento per XRF puntuale semplicemente staccando la testa di misura dalla struttura di movimentazione e montandola su un leggero treppiede.

Per maggiori informazioni è possibile scaricare la brochure sul sito xglab.it o contattare XGLab.

 

Fonte: XGLAB

Ultima modifica il Giovedì, 07 Aprile 2016 10:55

Aggiungi commento


Codice di sicurezza
Aggiorna

NOTA! Questo sito utilizza i cookie e tecnologie simili.

Se non si modificano le impostazioni del browser, l'utente accetta. Per saperne di piu'

Approvo