La Conferenza TECHNART 2017 "Non-destructive and microanalytical techniques in art and cultural heritage" si svolgerà a Bilbao dal 2 al 6 Maggio 2017. Scopo principale della Conferenza è essere un forum scientifico per presentare e promuovere l'uso di tecniche analitiche nel campo dei beni culturali.
La Conferenza si basa sulla dinamica della precedenti edizioni di TECHNART che si sono tenute a Lisbona, Atene, Berlino, Amsterdam e Catania, offrendo un'unica e rilevante opportunità di scambio di conoscenza su principali sviluppi all'avanguardia. Gli studi sul patrimonio culturale sono interpretati in un ampio senso includendo i pigmenti, le pietre, il vetro, le ceramiche, la chemiometria sugli studi di opere d'arte, resine, fibre, applicazioni forensi nell'arte, storia, archeologia e scienza per la conservazione.
Temi della Conferenza sono:
- Analisi ai raggi x (XRF, PIXE, XRD, SEM-EDX)
- Microscopia confocale ai raggi x (3D Micro-XRF, 3D Micro-PIXE)
- Sincrotrone, ion beam analysis e altre tecniche e strumentazioni basate su neutroni
- Spettroscopia FT-IR e Raman
- UV-Vis e NIR assorbimento/riflettanza e fluorescenza
- Tecniche analitiche basate sul laser (LIBS, etc)
- Tecniche di risonanza magnetica
- Cromatografia (GC, HPLC) e spettrometria di massa
- Tecniche di imaging e coerenza ottica
- Spettrometria portatile e remote sensing
La scadenza per presentare abstract è il 7 Gennaio 2017.
Fonte/Source: TECHNART 2017
TECHNART 2017 conference will be held in Bilbao from the 2nd until the 6th of May. The main aim of this congress is to provide a scientific forum to present and promote the use of analytical techniques in the field of cultural heritage. The conference builds on the momentum of the previous TECHNART editions of Lisbon, Athens, Berlin, Amsterdam and Catania, offering an outstanding and unique opportunity for exchanging knowledge on leading edge developments. Cultural heritage studies are interpreted in a broad sense, including pigments, stones, metals, glass, ceramics, chemometrics on artwork studies, resins, fibers, forensic applications in art, history, archaeology and conservation science.
Conference topics:
- X-ray analysis (XRF, PIXE, XRD, SEM-EDX)
- Confocal X-ray microscopy (3D Micro-XRF, 3D Micro-PIXE)
- Synchrotron, ion beam and neutron based techniques/instrumentation
- FT-IR and Raman spectroscopy
- UV-Vis and NIR absorption/reflectance and fluorescence
- Laser-based analytical techniques (LIBS, etc)
- Magnetic resonance techniques
- Chromatography (GC, HPLC) and mass spectrometry
- Optical imaging and coherence techniques
- Mobile spectrometry and remote sensing
Abstract submission deadline: 7 January 2017
Sito web/Website: http://www.ehu.eus/en/web/technart2017/home
Fonte/Source: TECHNART 2017