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Giovedì, 02 Ottobre 2014 08:49

La microscopia elettronica applicata allo studio dei beni culturali

microscopia-beni-culturali-novembre2014Si terrà presso il DiSTeVA, Campus Scientifico Enrico Mattei, Università di Urbino, nei giorni 6 e 7 novembre 2014 il 

Workshop su "La microscopia elettronica applicata allo studio dei beni culturali". L'evento, organizzato dalla SISM, Società Italian Scienze Microscopiche, con il supporto del Dipartimento di Scienze della Terra, della Vita e dell'Ambiente dell'Università degli Studi di Urbino Carlo Bo, è dedicato a professionisti, docenti,ricercatori, tecnici e studenti che operano nel campo dello studio, della conservazione e del restauro dei beni culturali. Sarà dedicata particolare importanza alle applicazioni delle microscopia elettronica, nei suoi diversi approcci metodologici.

Autorevoli relatori illustreranno, nell'Aula Magna del Campus, i loro dati più recenti sulla caratterizzazione morfologica ultrastrutturale di filati,affreschi, stucchi, legni, marmi, ceramiche, vetri, pietre, monili, libri, polimeri e altro materiale provenienti da opere d’arte.
Per informazioni: Questo indirizzo email è protetto dagli spambots. È necessario abilitare JavaScript per vederlo., Questo indirizzo email è protetto dagli spambots. È necessario abilitare JavaScript per vederlo.

La scadenza per le iscrizioni è l'11 ottobre 2014
L’iscrizione può essere effettuata facendone richiesta via e-mail (Questo indirizzo email è protetto dagli spambots. È necessario abilitare JavaScript per vederlo.) unitamente a copia del versamento della quota, oppure su questo sito web.
Le quote di iscrizione comprendono partecipazione alle relazioni, materiale didattico, pranzo, cena in un ristorante tipico di Urbino, 3 coffee break.

SOCI SISM: 80.00 euro + IVA 22%
NON SOCI SISM: 150.00 euro + IVA 22%

Possono usufruire dello sconto SOCI SISM tutti gli iscritti prima del 31/07/2014
Registrazione e pagamento on line 

Scarica la locandina 

 

Fonte: SISM http://www.sism.it

 

Ultima modifica il Giovedì, 12 Febbraio 2015 17:35

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