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Venerdì, 18 Gennaio 2013 14:22

XGLab presenta ELIO, un nuovo spettrometro per l'analisi XRF

Redazione Archeomatica

ElioIl nuovo strumento è stato presentato da XGLab  durante il convegno dell'IGIIC "Lo Stato dell'Arte 10" tenutosi dal 22 al 24 novembre 2012 a Roma. Il nuovo spettrometro di analisi XRF (X-Ray Fluorescence) è basato su rivelatori a deriva di silicio (Silicon Drift Detector, SDD), è facilmente trasportabile e facile all'uso e permette l'analisi elementale qualitativa e quantitativa in numerosi campi: diagnostica e restauro di opere d'arte, scienze forensi, controllo di processi industriali, scienza nucleare, scienza dei materiali.

Elio nasce per essere utilizzato in maniera molto semplice anche grazie alla porta di collegamento USB. E' possibile eseguire misure in pochi secondi grazie al detector SDD ad ampia area con l'opzione "CUBE Inside".

Elio supera i limiti dell'XRF: misura la risoluzione delle alte energie e ha un eccellente limite di misura per quelle basse, diverse opzioni per l'anodo del tubo, i filtri e i collimatori.

L'analisi XRF è visualizzata mediante lo spettro di fluorescenza, l'immagine dell'area di analisi con la precisa posizione del punto di misura, grazie a due punti laser e ad un'immagine a maggior campo di vista grazie ad una telecamera aggiuntiva.

Elio è costituito da una testa di misura compatta, facilmente trasportabile e che può essere montata su treppiede per analisi in-situ. Il peso totale della testa di misura è 2,1 Kg.

E' possibile utilizzare ELIO anche in un box se c'è la necessità di operare in particolari condizioni di totale sicurezza.

  

Elio xrf 2

 

 

Caratteristiche specifiche:

 

Caratteristiche generali

Regione di misura 1-40 keV, Na (Z=11) to U (Z=92)

LED per illuminazione del campione

Laser per il posizionamento in analisi puntuali

Videocamera microscopica per il monitoraggio del punto di analisi

Videocamera per la documentazione

Connessione al computer dedicato via USB2.0

Software per visualizzazione degli spettri e la gestione del sistema

Alcune opzioni per treppiede leggero

Pacchetto software per analisi quantitative

Kit di ricambio batteria

Kit per analisi di elementi leggeri in atmosfera di He

 

Detector di raggi x

Detector: Large Silicon Drift Detector con area attiva di 25 mm2

Finestra: 12 µm di Be

Risoluzione: <135eV a MnKα con raffreddamento Peltier

Rate di misura: sopra i 500.00 conteggi per secondo, con opzione "CUBE inside"

 

Generatore di raggi x

Materiale: Rh (su richiesta Au, Ag, Mo, W)

Potenza del tubo: da 10 a 50 kV, 5 µA min / 200 µA max

Diametro di uscita del fascio collimato: sotto i 0.5 mm

 

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A proposito di XGLab 

 

 

XGLab è una nuova società il cui core-business è lo sviluppo di strumentazione elettronica ad alta prestazione per applicazioni raggi X e gamma.

La "X" nel nome della Società si riferisce, infatti, ai raggi X, la "G" ai raggi gamma, mentre il "laboratorio" si riferisce all'atteggiamento della società di basare l'innovazione dei loro prodotti sul profonde ricerche scientifiche e tecnologiche. 

XGLab è uno spin-off del "Politecnico di Milano", la principale università tecnica italiana. I fondatori XGLab provengono da un gruppo di ricerca attivo da diversi decenni nel campo dei rivelatori di radiazione, rivelatori Silicon Drift (SDD), in particolare dell'elettronica correlata. Questo gruppo è universalmente riconosciuto come di riferimento in questo campo. 

 

Contatti:

XGLab S.r.l. Spinoff del Politecnico di Milano

Via Moretto da Brescia 2

20133 Milano

Tel./Fax. +39 02 49660460

www.xglab.it - Questo indirizzo email è protetto dagli spambots. È necessario abilitare JavaScript per vederlo.

 

Fonte: Libera traduzione del materiale informativo recuperabile sul sito della Società XGLab S.r.l.

 

Ultima modifica il Giovedì, 12 Febbraio 2015 17:33

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