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Martedì, 27 Settembre 2011 16:57

Ritratto di Don Ramòn Satué di Francisco Goya

Le tecniche di indagine non invasive sui dipinti come la radiografia a raggi x, la riflettografia a infrarossi e la fluorescenza ultravioletta permettono, a chi ha la possibilità di averci a che fare, di ottenere delle belle soddisfazioni. Le diverse tecniche di imaging, infatti, permettono di conoscere in profondità un'opera d'arte, ottenendo informazioni non deducibili ad occhio nudo.



I risultati più interessanti si hanno quando si riesce ad individuare dettagli sconosciuti come ripensamenti dell'artista riguardo la raffigurazione di un soggetto o meglio ancora quando si riesce a ritrovare "sotto" l'opera d'arte un'altra opera, spesso un'altro dipinto scartato dallo stesso artista, che per esigenze di risparmio ha deciso di riutilizzare lo stesso supporto.
E' questo il caso della recente scoperta effettuata presso il Museo Rijksmuseum di Amsterdam sul Ritratto di Don Ramòn Satué di Francisco Goya. dove è stato ritrovato un ritratto sottostante.
Secondo gli studiosi si tratta di un generale francese, probabilmente Giuseppe Bonaparte fratello di Napoleone. Gli stessi studiosi non nascondono che il ritratto possa essere stato coperto per motivi politici in quanto Giuseppe Bonaparte fu re di Spagna dal 1808 al 1813. Goya che aveva lavorato per il governo francese potrebbe quindi aver agito in tal senso.
La tecnologia impiegata é una nuova radiografia a scansione a raggi x di alta densità, sviluppata dall'Università di Anversa e la Delf University of Technology, già sperimentata su un quadro di Van Gogh due anni fa. I raggi x causano un'emissione di fluorescenza di raggi x permettendo di differenziare i diversi materiali presenti.
E' questo un altro caso in cui la storia dell'arte mostra ancora delle pagine da scrivere grazie all'aiuto offerto dalle nuove tecnologie.

(Fonte: Redazionale)

Ultima modifica il Giovedì, 12 Febbraio 2015 17:32

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